晶体的精确再调整
晶体的精确再调整
此外，用户可能还需要以2 meV的适中分辨率和高通量快速提取样本的特征值，然后以0.5 meV的超高能量分辨率选取样本以做精确测量。这就需要迅速转换两个单色仪，并对四个晶体的布喇格角和倾斜角度做出精确的再调整。
晶体定位提出极高要求
晶体定位提出极高要求
要调整布喇格角和倾斜角，必须实现晶体的高精度移动与定位。此外，卓越的长期稳定性和极佳的可重复性同样必不可少，而且平台本身需要适应极其有限的操作空间。
PI独有的基于压电技术的PiezoWalk®驱动器及精密控制器提供了完美的解决方案。它具有出众的布喇格角和倾斜角分辨率（仅为0.1微弧度），12微弧度范围内<0.1微弧度的可重复性甚至超出要求。配合电容式位置反馈传感器使用，可在0.1微弧度下表现出卓越的长期定位稳定性，并且平台大小仅为95 mm × 78 mm × 32 mm，十分紧凑。
未来，PI平台±2毫弧度的角行程将被用来完成同步运动，以提供多样化的X射线分光计光束能量选择。
